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產(chǎn)品中心材料樣品檢測探針臺
高溫真空探針臺KT-Z1604TZ，可單選高溫或低溫等相應組件，溫度可達到400℃。以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差。
更新時間：2024-03-29
產(chǎn)品型號：KT-Z1604TZ
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真空手動探針臺變溫射頻探針熱臺該腔體設計有進氣口和抽真空接口其真空度用機械泵可達＜5Pa分子泵可達＜-3Pa。真空信號連接處使用高級真空電極信號接頭，保證氣密性及抗干擾性能。使用時將需將待檢測的器件方在加熱臺面，探針頂尖處由3軸可移動探針手動調(diào)節(jié)移動至被測試器件的引腳處，外部信號線連接測試儀器來測試電學信號。
更新時間：2024-03-29產(chǎn)品型號：瀏覽量：1898
